[实用新型]测试治具有效
| 申请号： | 201720181124.3 | 申请日： | 2017-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN207396672U | 公开（公告）日： | 2018-05-22 |
| 发明（设计）人： | 郭红建 | 申请（专利权）人： | 珠海拓优电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 卢泽明 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市斗*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种测试治具，包括有针盘、线盘、测试连接口；所述针盘的上表面穿插有间隔设置且可上下活动的多根测试探针，所述线盘上穿设间隔设置的多条导电线，所述多条导电线的一端成对地与针盘上受压下移的一根测试探针对应导通连接，另一端连接在测试连接口内的测试连接针一一连接；测试时，受压下移的两根测试探针分别经两根导电线与对应的两个测试连接针之间形成两个测试点的回路。这样，本测试治具即可代替现有四线测试治具进行电路板阻值测试，且结构简单，制作难度低、周期短、成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 | ||
【主权项】：
1.一种测试治具，其特征在于：包括有针盘(1)、线盘(2)、测试连接口(3)；所述针盘(1)的上表面穿插有间隔设置且可上下活动的多根测试探针(4)，所述线盘(2)上穿设间隔设置的多条导电线(5)，所述多条导电线(5)的一端成对地与针盘(1)上受压下移的一根测试探针(4)对应导通连接，另一端连接在测试连接口(3)内的测试连接针(31)一一连接；测试时，受压下移的两根测试探针(4)分别经两根导电线(5)与对应的两个测试连接针(31)之间形成两个测试点的回路。
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