[实用新型]一种线性离子阱分析器精密线割治具有效

专利信息
申请号: 201720188834.9 申请日: 2017-02-27
公开(公告)号: CN206567647U 公开(公告)日: 2017-10-20
发明(设计)人: 尹智勇 申请(专利权)人: 尹智勇
主分类号: B23H7/02 分类号: B23H7/02;B23H11/00
代理公司: 东莞市科安知识产权代理事务所(普通合伙)44284 代理人: 曾毓芳
地址: 435100 湖北省黄*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 一种线性离子阱分析器精密线割治具,包括一主体和两个对称外倾的侧边体,所述侧边体与主体一体成型,在所述侧边体之间的平面上开设有定位腔,所述定位腔包括凹槽与位于所述凹槽两侧的延伸部,所述凹槽的顶面设有若干第一定位孔,所述侧边体的侧面开设有若干第二定位孔,石英玻璃、电极、及外框结构组装完成后,该治具用于固定外框板,然后对电极进行线切割,可以保证所加工的产品精度一致。
搜索关键词: 一种 线性 离子 分析器 精密 割治
【主权项】:
一种线性离子阱分析器精密线割治具,其特征在于:包括:一主体和两个对称外倾的侧边体,所述侧边体与主体一体成型,在所述侧边体之间的平面上开设有定位腔,所述定位腔包括凹槽与位于所述凹槽两侧的延伸部,所述凹槽的顶面设有若干第一定位孔,所述侧边体的侧面开设有若干第二定位孔。
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