[实用新型]一种光学元件平行度检测设备有效
| 申请号： | 201720226374.4 | 申请日： | 2017-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN206556615U | 公开（公告）日： | 2017-10-13 |
| 发明（设计）人： | 段美华 | 申请（专利权）人： | 希比希光学（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/27 | 分类号： | G01B11/27 |
| 代理公司： | 北京市商泰律师事务所11255 | 代理人： | 毛燕生 |
| 地址： | 101400 北京市怀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种光学元件平行度检测设备，包括自准直仪、待测元件承座和显示屏，待测元件承座固定在测量承座上，自准直仪通过垂直固定台固定在测量承座上使得工件测量底座位于自准直仪正下方，在待测元件的两个平面上依次放置第一平面平行玻璃板和第二平面平行玻璃板，所述显示屏与自准直仪通过数据连接线连接。本实用新型通过自准直仪的平行光与平行平面反射板的反射原理，实现对光学部件的平行度的简单准确测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 元件 平行 检测 设备 | ||
【主权项】：
一种光学元件平行度检测设备，包括自准直仪、待测元件承座和显示屏，待测元件承座固定在测量承座上，自准直仪通过垂直固定台固定在测量承座上使得工件测量底座位于自准直仪正下方，在待测元件的两个平面上依次放置第一平面平行玻璃板和第二平面平行玻璃板，所述显示屏与自准直仪通过数据连接线连接。
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