[实用新型]X‑射线单晶衍射仪易风化晶体低温显微上样系统有效
| 申请号： | 201720239861.4 | 申请日： | 2017-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN206601348U | 公开（公告）日： | 2017-10-31 |
| 发明（设计）人： | 杨培菊;沈志强;黄晓卷;任伟;胡霄雪;何荔;刘佳梅;牛建中 | 申请（专利权）人： | 中国科学院兰州化学物理研究所 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20 |
| 代理公司： | 兰州中科华西专利代理有限公司62002 | 代理人： | 周瑞华 |
| 地址： | 730000 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种X‑射线单晶衍射仪易风化晶体低温显微上样系统，包括测角仪和低温探头，该上样系统还包括低温挑晶台、显微成像单元和低温保障单元，测角仪正上方设有与其通过支架相连且位于低温探头正下方的凹型中空低温挑晶台，该低温挑晶台依次通过其侧面所设冷却液进出口、冷却液管路与位于单晶衍射仪外部的低温保障单元相连；显微成像单元包括工业摄像机、显示屏和光学显微镜，显示屏和光学显微镜均与工业摄像机相连。本实用新型彻底解决了易风化晶体难以得到完整衍射数据的问题，进一步扩展了X射线单晶衍射仪低温装置的功能。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 衍射 风化 晶体 低温 显微 系统 | ||
【主权项】：
X‑射线单晶衍射仪易风化晶体低温显微上样系统，包括测角仪(2)和低温探头(8)，其特征在于该上样系统还包括低温挑晶台(4)、显微成像单元和低温保障单元(9)，所述测角仪(2)正上方设有与其通过支架(3)相连且位于低温探头(8)正下方的凹型中空低温挑晶台(4)，该低温挑晶台(4)依次通过其侧面所设冷却液进出口、冷却液管路与位于单晶衍射仪(1)外部的低温保障单元(9)相连；所述显微成像单元包括工业摄像机(6)、显示屏(7)和光学显微镜(5)，显示屏(7)和光学显微镜(5)均与工业摄像机(6)相连。
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