[实用新型]光学检查设备有效
| 申请号： | 201720290027.8 | 申请日： | 2017-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN206725414U | 公开（公告）日： | 2017-12-08 |
| 发明（设计）人： | 王宣復 | 申请（专利权）人： | 华洋精机股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/94 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 | 代理人： | 梁挥,鲍俊萍 |
| 地址： | 中国台湾台南市*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型的光学检查设备包括一光源装置、一滤光装置及一影像捕获设备。光源装置沿一入射光轴照射一待测物，在待测物的一脏污形成漫反射光。影像捕获设备沿一漫反射光轴接收通过滤光装置的漫反射光。漫反射光轴与入射光轴相对于待测物的一法线呈不对称。其中，滤光装置仅允许沿漫反射光轴的漫反射光通过滤光装置。本实用新型的光学检查设备是通过滤光装置的配置使依循反射定理形成的反射光不会通过滤光装置，仅有部分的漫反射光能沿着漫反射光轴通过滤光装置，进而让影像捕获设备接收及成像，以提高检查的效率及避免受到阴影干扰。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检查 设备 | ||
【主权项】：
一种光学检查设备，其特征在于，该设备包括：一光源装置，沿一入射光轴照射一待测物并在该待测物的一脏污形成漫反射光；一滤光装置；以及一影像捕获设备，沿一漫反射光轴接收通过该滤光装置的该漫反射光，该漫反射光轴与该入射光轴相对于该待测物的一法线呈不对称，其中，该滤光装置仅允许沿该漫反射光轴的该漫反射光通过该滤光装置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华洋精机股份有限公司，未经华洋精机股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201720290027.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种用于放置比色皿的支架
- 下一篇：一种静电物位开关传感器及静电物位开关
