[实用新型]大电流高频低饱和压降NPN型功率晶体管有效

专利信息
申请号: 201720303610.8 申请日: 2017-03-27
公开(公告)号: CN206558509U 公开(公告)日: 2017-10-13
发明(设计)人: 龚利汀;龚利贞 申请(专利权)人: 无锡固电半导体股份有限公司
主分类号: H01L29/73 分类号: H01L29/73;H01L29/06
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)32104 代理人: 曹祖良
地址: 214028 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提供一种大电流高频低饱和压降NPN型功率晶体管,包括N型衬底,形成于N型衬底背面的背面金属层,用于形成晶体管的集电极;N型衬底的上方中间形成有P型基区;P型基区上方连接有基区一级金属层;P型基区的正面形成有N+型发射区和N+型增阻环,N+型发射区的上方连接有发射区一级金属层;上方衬底的顶部覆盖有绝缘介质层、表面保护阻挡层、钝化层;基区二级金属层并通过钝化层的开口与基区一级金属层相连,用于形成晶体管的基极;发射区二级金属层通过钝化层的开口与发射区一级金属层相连,用于形成晶体管的发射极;本实用新型具有可靠性高,漏电小,电流大,高频,低饱和压降、开关时间速度快等特点。
搜索关键词: 电流 高频 饱和 npn 功率 晶体管
【主权项】:
一种大电流高频低饱和压降NPN型功率晶体管,包括N型衬底,其特征在于,还包括:形成于N型衬底背面的背面金属层(12),用于形成晶体管的集电极;N型衬底的上方中间形成有P型基区(9);P型基区(9)的上方连接有基区一级金属层(4);P型基区(9)的正面形成有N+型发射区(8),N型衬底正面形成N+型增阻环(13),N+型增阻环(13)与P型基区(9)保持间隔并围绕P型基区(9)设置,N+型发射区(8)的上方连接有发射区一级金属层(3);发射区一级金属层(3)和基区一级金属层(4)相互隔离;衬底的顶部覆盖有绝缘介质层(7),绝缘介质层(7)上方形成有表面保护阻挡层(6),表面保护阻挡层(6)上方形成有钝化层(5);基区二级金属层(2)设置在钝化层(5)上,并通过钝化层(5)的开口与基区一级金属层(4)相连,用于形成晶体管的基极;发射区二级金属层(1)设置在钝化层(5)上,并通过钝化层(5)的开口与发射区一级金属层(3)相连,用于形成晶体管的发射极;基区二级金属层(2)和发射区二级金属层(1)相互隔离。
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