[实用新型]一种用于单粒子效应辐照实验的样品座有效
| 申请号： | 201720306335.5 | 申请日： | 2017-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN206649054U | 公开（公告）日： | 2017-11-17 |
| 发明（设计）人： | 蔡莉;郭刚;刘建成;史淑廷;惠宁;李丽丽 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102413 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型属于单粒子效应辐照实验温控技术领域，具体涉及一种用于单粒子效应辐照实验的样品座，用于在加速器的真空靶室(11)中对进行单粒子效应辐照实验的样品芯片(12)进行温度控制，其特征是所述样品座(1)的上半部分为设置所述样品芯片(12)的若干个样品支架(2)，下半部分的内部设置有加热腔(5)和制冷腔(6)；所述加热腔(5)用于设置加热装置；所述制冷腔(6)连接所述真空靶室(11)外部的制冷装置，用于容纳制冷剂。采用本实用新型所提供的样品座能够在一次辐照实验中对多枚样品芯片进行高、低温操作，充分利用了宝贵的实验时间，提高了加速器的束流的利用率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 粒子 效应 辐照 实验 样品 | ||
【主权项】：
一种用于单粒子效应辐照实验的样品座(1)，用于在加速器的真空靶室(11)中对进行单粒子效应辐照实验的样品芯片(12)进行温度控制，其特征是：所述样品座(1)的上半部分为设置所述样品芯片(12)的若干个样品支架(2)，下半部分的内部设置有加热腔(5)和制冷腔(6)；所述加热腔(5)用于设置加热装置；所述制冷腔(6)连接所述真空靶室(11)外部的制冷装置，用于容纳制冷剂。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国原子能科学研究院，未经中国原子能科学研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201720306335.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
