[实用新型]一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具有效

专利信息
申请号: 201720325496.9 申请日: 2017-03-30
公开(公告)号: CN206671370U 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 潘甲东;韩玉成;王利凯;刘剑林;严勇 申请(专利权)人: 中国振华集团云科电子有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 昆明合众智信知识产权事务所53113 代理人: 张玺
地址: 550000 贵州省*** 国省代码: 贵州;52
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摘要: 实用新型公开了一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具,包括上保护盖和下保护盖,所述上保护盖下侧设有带屏蔽的PCB板,在该PCB板下侧设有第一探针固定板;所述第一探针固定板上插入若干个弹簧探针延伸至PCB板;所述下保护盖上侧设有带屏蔽的PCB板,在该PCB板上侧设有第二探针固定板;所述第二探针固定板四个角上设有固定螺杆,且探针固定板上插入若干个探针延伸至PCB板;本实用新型能够保证在检测过程中电容器具有良好的接触性,以及对产品的防护性;不仅大大提高了测试的准确性,而且操作也十分简单方便,提高了测试效率。
搜索关键词: 一种 用于 芯片 电容器 性能 测试 多功能 夹具
【主权项】:
一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具,其特征在于:包括上保护盖和下保护盖,所述上保护盖下侧设有带屏蔽的PCB板,在该PCB板下侧设有第一探针固定板;所述第一探针固定板上插入若干个弹簧探针延伸至PCB板;所述下保护盖上侧设有带屏蔽的PCB板,在该PCB板上侧设有第二探针固定板;所述第二探针固定板四个角上设有固定螺杆,且探针固定板上插入若干个探针延伸至PCB板。
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