[实用新型]一种多功能半导体电学性质快速测试装置有效
| 申请号： | 201720385657.3 | 申请日： | 2017-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN206594265U | 公开（公告）日： | 2017-10-27 |
| 发明（设计）人： | 张伟;张树霞 | 申请（专利权）人： | 马鞍山纽盟知识产权管理服务有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 243000 安徽省马*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种多功能半导体电学性质快速测试装置，包括测试盒本体，测试盒本体分为测试盒底座和测试盒上盖，测试盒底座和测试盒上盖活动连接，测试盒底座内设有多个卡槽，且卡槽内固定有帕尔贴片，卡槽的前端设有测试探针，且测试探针连接设置在测试探针下方的弹性伸缩组件，测试探针分别连接PCB板，且测试探针分别并联连接设置在测试盒底座上的电压表和电流表，测试盒上盖内侧设有弹性橡胶柱，本实用新型结构原理简单，能够实现对半导体器件的快速测试，且探针不易损坏，使用寿命长；同时测得的电参数能够实时显示。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多功能 半导体 电学 性质 快速 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种多功能半导体电学性质快速测试装置, 包括测试盒本体（1），其特征在于：所述测试盒本体（1）分为测试盒底座（2）和测试盒上盖（3），所述测试盒底座（2）和测试盒上盖（3）活动连接，所述测试盒底座（2）内设有多个卡槽（4），且所述卡槽（4）内固定有帕尔贴片（5），所述卡槽（4）的前端设有测试探针（6），且所述测试探针（6）连接设置在测试探针（6）下方的弹性伸缩组件（7）。
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