[实用新型]具有半导体元件置放模块之测试装置有效
| 申请号： | 201720406403.5 | 申请日： | 2017-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN206696390U | 公开（公告）日： | 2017-12-01 |
| 发明（设计）人： | 陈南良 | 申请（专利权）人： | 苏州震坤科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京华夏博通专利事务所(普通合伙)11264 | 代理人： | 刘俊 |
| 地址： | 215123 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种具有半导体元件置放模块之测试装置，包括机台、设于所述机台上的标准IC暂存区、测完IC暂存区、半导体元件测试区以及取放装置，其中所述标准IC暂存区内放置着至少一样本半导体元件，所述半导体元件测试区内设置着至少一测试模块，所述取放装置能驱动一半导体元件取放单元作水平及垂直方向的移动，当所述测试模块在运作中出现不良品数目超过设定值时，由所述取放装置将所述样本半导体元件由所述标准IC暂存区移载至所述测试模块，加以进一步验证，确认测试结果的正确性。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 半导体 元件 置放 模块 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种具有半导体元件置放模块之测试装置，其特征在于：包括机台、设于所述机台上的标准IC暂存区、测完IC暂存区、半导体元件测试区以及取放装置，其中所述标准IC暂存区内放置着至少一样本半导体元件，而所述半导体元件测试区内设置着至少一测试模块，所述取放装置能驱动一半导体元件取放单元作水平及垂直方向的移动，当所述测试模块在运作中出现不良品数目超过设定值时，再由所述取放装置将所述样本半导体元件由所述标准IC暂存区移载至所述测试模块，加以进一步验证，确认测试结果的正确性。
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