[实用新型]一种基于MCU的新型电子技术实验系统有效
| 申请号： | 201720464402.6 | 申请日： | 2017-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN206946788U | 公开（公告）日： | 2018-01-30 |
| 发明（设计）人： | 李林;陈璨;万书红;郝宪锋;张旭 | 申请（专利权）人： | 中国石油大学（华东） |
| 主分类号： | G09B23/18 | 分类号： | G09B23/18 |
| 代理公司： | 东营双桥专利代理有限责任公司37107 | 代理人： | 罗文远 |
| 地址： | 266580 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种基于MCU的新型电子技术实验系统。其技术方案是微控制器采用具有模拟信号和数字信号的单片机C8051F120，芯片故障设置模块、电源故障设置模块和输入输出故障设置模块通过微控制器的I/O控制继电器的动作，实现信号的通断和电路的切换，以此模拟电路中出现的导线和芯片的接触不良；另外，通过A/D采集故障点的信息，由无线通讯模块实现学生实验过程的监测。有益效果是通过增加微控制器和无线模块，利用上位机实现故障点设置和监测功能，实现了电子技术实验系统的智能化。具有故障点设置和监测功能的智能电子技术实验系统是一种全新的实验系统。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 mcu 新型 电子技术 实验 系统 | ||
【主权项】：
一种基于MCU的新型电子技术实验系统，其特征是：包括微控制器、芯片故障设置模块、电源故障设置模块、输入输出故障设置模块、无线通讯模块，所述微控制器采用具有模拟信号和数字信号的单片机C8051F120，微控制器分别连接芯片故障设置模块、电源故障设置模块、输入输出故障设置模块和无线通讯模块，其中，芯片故障设置模块、电源故障设置模块和输入输出故障设置模块通过微控制器的I/O控制继电器的动作，实现信号的通断和电路的切换，以此模拟电路中出现的导线和芯片的接触不良；另外，通过A/D采集故障点的信息，由无线通讯模块实现学生实验过程的监测。
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