[实用新型]一种PIN结构紫外光电探测器有效

专利信息
申请号: 201720479083.6 申请日: 2017-05-02
公开(公告)号: CN207021269U 公开(公告)日: 2018-02-16
发明(设计)人: 王书昶;刘玉申;李中国;冯金福 申请(专利权)人: 常熟理工学院
主分类号: H01L31/0296 分类号: H01L31/0296;H01L31/032;H01L31/0352;H01L31/105;H01L31/18
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙)32204 代理人: 张俊范
地址: 215500 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种PIN结构紫外光电探测器,包括由下至上依次设置的蓝宝石衬底、AlN成核层、Alx1Ga1‑x1N缓冲层、n型Alx2Ga1‑x2N层、非掺杂i型ZnO/TiO2超晶格吸收层、p型Alx3Ga1‑x3N层、p型GaN层,在n型Alx2Ga1‑x2N层上引出的n型欧姆电极,在p型GaN层上引出的p型欧姆电极,所述非掺杂i型ZnO/TiO2超晶格吸收层中,超晶格的重复周期数为1~10个。本实用新型还公开了PIN结构紫外光电探测器的制备方法。该PIN结构紫外光电探测器可提高探测器对弱紫外信号的响应度。
搜索关键词: 一种 pin 结构 紫外 光电 探测器
【主权项】:
一种PIN结构紫外光电探测器,其特征在于,包括由下至上依次设置的蓝宝石衬底、AlN成核层、Alx1Ga1‑x1N缓冲层、n型Alx2Ga1‑x2N层、非掺杂i型ZnO/TiO2超晶格吸收层、p型Alx3Ga1‑x3N层、p型GaN层,在n型Alx2Ga1‑x2N层上引出的n型欧姆电极,在p型GaN层上引出的p型欧姆电极,所述非掺杂i型ZnO/TiO2超晶格吸收层中,超晶格的重复周期数为1~10个。
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