[实用新型]扇出型晶圆级封装结构有效

专利信息
申请号: 201720531294.X 申请日: 2017-05-15
公开(公告)号: CN206758428U 公开(公告)日: 2017-12-15
发明(设计)人: 吴政达;林正忠 申请(专利权)人: 中芯长电半导体(江阴)有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;H01L21/60;H01L25/18
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙)31219 代理人: 余明伟
地址: 214437 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提供一种扇出型晶圆级封装结构,所述扇出型晶圆级封装结构至少包括重新布线层;第一倒装芯片,键合于所述重新布线层的上表面;金属膏导电柱,位于所述重新布线层的上表面,且与所述重新布线层电连接;第二倒装芯片,键合于所述金属膏导电柱的上表面;塑封层,位于所述重新布线层的上表面;焊球凸块,位于所述重新布线层的下表面。本实用新型的扇出型晶圆级封装结构中,使用金属膏导电柱替代现有技术中的金属导电柱,金属膏导电柱可以使用金属膏印刷工艺制备而得到,相较于现有技术中的电镀工艺制备金属导电柱具有成本低、制备工艺简单等优点。
搜索关键词: 扇出型晶圆级 封装 结构
【主权项】:
一种扇出型晶圆级封装结构,其特征在于,所述扇出型晶圆级封装结构至少包括:重新布线层;第一倒装芯片,键合于所述重新布线层的上表面,且与所述重新布线层电连接;金属膏导电柱,位于所述重新布线层的上表面,且与所述重新布线层电连接;第二倒装芯片,键合于所述金属膏导电柱的上表面,且位于所述第一倒装芯片的上方,所述第二倒装芯片经由所述金属膏导电柱与所述重新布线层电连接;塑封层,位于所述重新布线层的上表面,且填满所述第一倒装芯片、所述金属膏导电柱、所述第二倒装芯片及所述重新布线层之间的间隙,并将所述第一倒装芯片、所述金属膏导电柱及所述第二倒装芯片封裹塑封;焊球凸块,位于所述重新布线层的下表面,且与所述重新布线层电连接。
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