[实用新型]一种新型单片机过零检测器有效
| 申请号： | 201720537023.5 | 申请日： | 2017-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN206990669U | 公开（公告）日： | 2018-02-09 |
| 发明（设计）人： | 温良树 | 申请（专利权）人： | 重庆编福科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/175 | 分类号： | G01R19/175 |
| 代理公司： | 重庆嘉禾共聚知识产权代理事务所(普通合伙)50220 | 代理人： | 李绪岩 |
| 地址： | 400000 重*** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及检测电路的技术领域，具体涉及一种新型单片机过零检测器，其特征在于包括光电耦合高压采样部件和单片机及过零识别程序，所述光电耦合高压采样部件由光电耦合器FOD814和两个采样电阻构成。其有益效果在于不直接去提取市电零点，而是增大限流电阻，抬高判定门限，让光耦在接近市电幅值时才导通，最后利用正弦波对称性和重复性借助单片机内置的过零识别程序去回推周波零点，从而达到电路简单可靠、成本低廉、定位精准、功耗低的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 新型 单片机 检测器 | ||
【主权项】：
一种新型单片机过零检测器，其特征在于：包括光电耦合高压采样部件和单片机，所述光电耦合高压采样部件由光电耦合器FOD814和两个采样电阻220K构成；光电耦合高压采样部件与电源相连，单片机与光电耦合高压采样部件相连。
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