[实用新型]LCR射频阻抗测试仪有效
| 申请号： | 201720579053.2 | 申请日： | 2017-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN206725656U | 公开（公告）日： | 2017-12-08 |
| 发明（设计）人： | 陶龙旭;胡光鑫 | 申请（专利权）人： | 成都玖锦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/08 | 分类号： | G01R27/08 |
| 代理公司： | 成都坤伦厚朴专利代理事务所(普通合伙)51247 | 代理人： | 刘坤 |
| 地址： | 610000 四川省成都市成都高*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种LCR射频阻抗测试仪，包括依次相连的信号源、衰减器、巴伦、V/I输入切换开关、下变频电路、中频处理电路、ADC采集单元、FPGA，还包括50Ω高精度电阻R1、测试端口，50Ω高精度电阻R1与巴伦次级绕组同名端相连，测试端口与巴伦次级绕组异名端相连；下变频电路包括第一通道下变频电路、第二通道下变频电路，分别与其中一组V/I输入切换开关相连作为V通道与I通道；V通道信号为待测件上的电压降，I通道信号为待测件上的电流，两者比值的50倍即为待测件的阻抗。通过上述方式，本实用新型测量精度高、速度快、误差小，测量频率范围及阻抗范围较宽，抗干扰能力强。 | ||
| 搜索关键词： | lcr 射频 阻抗 测试仪 | ||
【主权项】：
一种LCR射频阻抗测试仪，其特征在于，包括依次相连的信号源、衰减器、巴伦、V/I输入切换开关、下变频电路、中频处理电路、ADC采集单元、FPGA，还包括50Ω高精度电阻R1、测试端口，50Ω高精度电阻R1与巴伦次级绕组同名端相连，测试端口与巴伦次级绕组异名端相连；下变频电路包括第一通道下变频电路、第二通道下变频电路，分别与其中一组V/I输入切换开关相连作为V通道与I通道；V通道信号为待测件上的电压降，I通道信号为待测件上的电流，两者比值的50倍即为待测件的阻抗。
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