[实用新型]一种X射线探测器芯片光敏面宽度结构有效

专利信息
申请号: 201720628067.9 申请日: 2017-06-01
公开(公告)号: CN207217556U 公开(公告)日: 2018-04-10
发明(设计)人: 董自勇 申请(专利权)人: 江苏尚飞光电科技有限公司
主分类号: H01L31/0352 分类号: H01L31/0352
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)11350 代理人: 汤东凤
地址: 226017 江苏省南通*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型一种X射线探测器芯片光敏面宽度结构,包括探测器芯片光敏面和探测芯片,所述探测芯片的表面等间距排列有16个探测器芯片光敏面,“探测器芯片光敏面的宽度范围为0.5-1.5mm”的设计,使得当芯片光敏面宽度的设计范围在0.5mm-1.5mm之间时,探测器有较好的探测响应度,并且像素之间的串扰也比较小,减小了常规的探测器芯片光敏面的宽度在1.5mm-1.575mm范围时,由于像素之间的隔离距离太小,相邻像素之间串扰严重,成像清晰度大大下降的问题。
搜索关键词: 一种 射线 探测器 芯片 光敏 宽度 结构
【主权项】:
一种X射线探测器芯片光敏面宽度结构,包括探测器芯片光敏面(1)和探测芯片(2),其特征在于:所述探测芯片(2)的表面等间距排列有16个探测器芯片光敏面(1),且每两处探测器芯片光敏面(1)中心距之间形成一个像素间距,且间距距离为1.575毫米;所述探测器芯片光敏面(1)的宽度范围为0.5-1.5毫米。
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