[实用新型]质谱检漏仪结构有效
申请号: | 201720637614.X | 申请日: | 2017-06-02 |
公开(公告)号: | CN206945230U | 公开(公告)日: | 2018-01-30 |
发明(设计)人: | 林震;周毅;罗俊;谭荣;柏胜;朱朝轩 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十六研究所 |
主分类号: | G01M3/20 | 分类号: | G01M3/20 |
代理公司: | 重庆乐泰知识产权代理事务所(普通合伙)50221 | 代理人: | 刘佳 |
地址: | 400060 *** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | 本实用新型提供一种质谱检漏仪结构,包括检漏仪本体、抽真空系统、抽真空管、平台和密封盒,所述平台设有通孔,所述密封盒无盖,所述密封盒盖合于所述通孔,所述抽真空管对准所述通孔,所述密封盒和抽真空管分别设于平台的两侧,所述密封盒的内部容置空间与半导体器件的外部轮廓相配合,所述密封盒内设有密封圈,所述密封圈设有支出部,所述支出部支出密封盒的盖合口。由于采用了上述技术方案,本实用新型具有结构合理的优点,所述密封盒的内部容置空间与半导体器件的外部轮廓相配合,尽可能缩短抽取真空的时间,提高氦质谱检漏仪的工作效率。 | ||
搜索关键词: | 检漏 结构 | ||
【主权项】:
质谱检漏仪结构,其特征在于,包括检漏仪本体、抽真空系统、抽真空管、平台和密封盒,所述平台设有通孔,所述密封盒无盖,所述密封盒盖合于所述通孔,所述抽真空管对准所述通孔,所述密封盒和抽真空管分别设于平台的两侧,所述密封盒的内部容置空间与半导体器件的外部轮廓相配合,所述密封盒内设有密封圈,所述密封圈包括支出部,所述支出部支出密封盒的盖合口。
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