[实用新型]一种二维调整测量基座有效
| 申请号： | 201720650424.1 | 申请日： | 2017-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN207036090U | 公开（公告）日： | 2018-02-23 |
| 发明（设计）人： | 田甜;余靖华;陈一峰 | 申请（专利权）人： | 武汉船舶职业技术学院;田甜 |
| 主分类号： | G01C3/02 | 分类号： | G01C3/02 |
| 代理公司： | 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙)11427 | 代理人： | 陈娟 |
| 地址： | 430050 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种二维调整测量基座，包括管座、转盘座、转盘和支座，所述管座包括基座以及设置在基座上方的底板，所述底板上左右对称设有轴座，所述底板一侧设有调整座，所述基座、底板与调整座一体成型，所述底板上设有转盘座，所述转盘座上设有转盘，所述转盘上对称设有两个支座，两个所述支座之间设有X轴。本实用新型通过第一调整螺钉可以微调节两个支座在竖直方向的高度，从而调节X轴的位置，实现了Y‑Z轴的相互垂直轴的微角度的调整，调整精度高，且设备结构简单，操作方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 二维 调整 测量 基座 | ||
【主权项】：
一种二维调整测量基座，其特征在于：包括管座、转盘座、转盘和支座，所述管座包括基座以及设置在基座上方的底板，所述底板上左右对称设有轴座，所述底板一侧设有调整座，所述基座、底板与调整座一体成型，所述底板上设有转盘座，所述转盘座上设有转盘，所述转盘上对称设有两个支座，两个所述支座之间设有X轴。
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