[实用新型]一种含打孔装置真空度检测用的测试包有效

专利信息
申请号: 201720741216.2 申请日: 2017-06-23
公开(公告)号: CN207074101U 公开(公告)日: 2018-03-06
发明(设计)人: 刘春明 申请(专利权)人: 天津凯美迪科技发展有限公司
主分类号: G01L21/00 分类号: G01L21/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300000 天津市滨海新区华苑*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 实用新型公开了一种含打孔装置真空度检测用的测试包,包括测试卡、上覆盖层、下覆盖层、下致密型透气载片、上致密型透气载片、上不透气卡片、疏松性透气载片、下不透气卡片、化学指示卡、皱纹纸、下透气包装层、第一不干胶、L型包条、延伸臂、变色框、核心块、底片、第二不干胶和上透气包装层,测试卡的上方设置有上致密型透气载片,上致密型透气载片的上方设置有上覆盖层,测试卡的下方设置有下致密型透气载片,下覆盖层的外部安装有下透气包装层,下透气包装层的左侧连接有第一不干胶,本实用新型可以减少包裹测试卡的麻烦,避免产生缝隙,影响测试效果,提高了含打孔装置测试包的真空度检测精度。
搜索关键词: 一种 打孔 装置 真空 检测 测试
【主权项】:
一种含打孔装置真空度检测用的测试包,包括测试卡(1)、上覆盖层(2)、下覆盖层(3)、下致密型透气载片(4)、上致密型透气载片(5)、上不透气卡片(6)、疏松性透气载片(7)、下不透气卡片(8)、化学指示卡(9)、皱纹纸(10)、下透气包装层(11)、第一不干胶(12)、L型包条(13)、延伸臂(14)、变色框(15)、核心块(16)、底片(17)、第二不干胶(18)和上透气包装层(19),其特征在于:所述测试卡(1)的上方设置有上致密型透气载片(5),所述上致密型透气载片(5)的上方设置有上覆盖层(2),所述测试卡(1)的下方设置有下致密型透气载片(4),所述下致密型透气载片(4)的下方设置有下覆盖层(3),所述下覆盖层(3)的外部安装有下透气包装层(11),所述下透气包装层(11)的左侧连接有第一不干胶(12),所述下透气包装层(11)的右侧连接有第二不干胶(18),所述下透气包装层(11)的上方安装有下不透气卡片(8),所述下不透气卡片(8)的上方设置有皱纹纸(10),所述皱纹纸(10)的上方安装有底片(17),所述上覆盖层(2)的外部安装有上透气包装层(19),所述上透气包装层(19)的下方安装有上不透气卡片(6),所述上不透气卡片(6)的下方设置有疏松性透气载片(7),所述疏松性透气载片(7)的下方设置有化学指示卡(9),所述测试卡(1)的中心位置处安装有核心块(16),所述核心块(16)的右侧设置有L型包条(13),所述L型包条(13)的上方设置有延伸臂(14),所述核心块(16)的上方设置有变色框(15)。
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