[实用新型]半导体激光器光纤耦合模块测试系统有效

专利信息
申请号: 201720743517.9 申请日: 2017-06-22
公开(公告)号: CN207007473U 公开(公告)日: 2018-02-13
发明(设计)人: 胡海;李成鹏;王泰山;李国泉;刘文斌;方继林 申请(专利权)人: 深圳瑞波光电子有限公司;深圳清华大学研究院
主分类号: G01M11/04 分类号: G01M11/04;G05F1/573;G05D23/24
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280 代理人: 钟子敏
地址: 518052 广东省深圳市南山区西丽*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种半导体激光器光纤耦合模块测试系统,其中,测试系统包括半导体激光器光纤耦合模块;驱动电流源,与半导体激光器光纤耦合模块连接,且驱动电流源设置有电源过冲保护;测试治具,设置于半导体激光器光纤耦合模块下方;数据采集模块,与半导体激光器光纤耦合模块耦接,用于对半导体激光器光纤耦合模块的工作参数进行数据采集;计算处理模块,分驱动电流源和所述数据采集模块耦接,以在测试时对所述驱动电流源的关合进行实时控制及对半导体激光器光纤耦合模块的工作参数进行反馈。通过上述方式,本实用新型能够大大提高测试效率,并且具有结构简单,成本低廉、操作方便等优点。
搜索关键词: 半导体激光器 光纤 耦合 模块 测试 系统
【主权项】:
一种半导体激光器光纤耦合模块测试系统,其特征在于,所述测试系统包括:半导体激光器光纤耦合模块;驱动电流源,与所述半导体激光器光纤耦合模块连接,所述驱动电流源设置有电源过冲保护,用于为所述半导体激光器光纤耦合模块提供工作电流,以及测试所述半导体激光器光纤耦合模块的光功率及电压;测试治具,设置于所述半导体激光器光纤耦合模块下方,所述测试治具具有平坦性及导热性;数据采集模块,与所述半导体激光器光纤耦合模块耦接,用于对所述半导体激光器光纤耦合模块的工作参数进行数据采集;计算处理模块,分别与所述驱动电流源和所述数据采集模块耦接,以在测试时对所述驱动电流源的关合进行实时控制及对所述半导体激光器光纤耦合模块的工作参数进行反馈。
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