[实用新型]一种IC芯片测试分选机构有效
| 申请号： | 201720761097.7 | 申请日： | 2017-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN206935818U | 公开（公告）日： | 2018-01-30 |
| 发明（设计）人： | 查虎中;汪阳 | 申请（专利权）人： | 长电科技（滁州）有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/34 | 分类号： | B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36 |
| 代理公司： | 南京知识律师事务所32207 | 代理人： | 蒋海军,胡锋锋 |
| 地址： | 239000 安徽省滁州市经济*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种IC芯片测试分选机构，属于半导体集成电路元件测试分选设备领域。本实用新型包括与水平面垂直且可转动的分度盘，该分度盘的圆周上设有若干安装部，安装部上可拆卸的安装有可相互夹在一起的夹头和夹块；基座的顶部设有用于承接IC芯片的导引块；夹头为L形结构，夹头的中部转动连接在安装部上，夹头的一侧边与夹块接触；基座的顶部还设有可沿其长度方向自由伸缩的进料顶块，该进料顶块的自由端对着夹头的另一侧边；基座的其他位置还设有若干出料顶块，每个出料顶块旁设有一落料口。本实用新型的目的在于克服现有IC芯片测试分选设备测试分选的产品规格单一的缺陷，提高了生产调度灵活性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ic 芯片 测试 分选 机构 | ||
【主权项】：
一种IC芯片测试分选机构，其特征在于：包括与水平面垂直且可转动的分度盘(504)，该分度盘(504)的圆周上设有若干安装部(505)，所述安装部(505)上可拆卸的安装有可相互夹在一起的夹头(506)和夹块(507)；所述夹头(506)为L形结构，夹头(506)的中部转动连接在安装部(505)上，夹头(506)的一侧边与夹块(507)接触。
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