[实用新型]测试MEMS构件振动特性的系统有效
申请号: | 201720779220.8 | 申请日: | 2017-06-30 |
公开(公告)号: | CN206876369U | 公开(公告)日: | 2018-01-12 |
发明(设计)人: | 贾晓丽;郭永豪;韩亚东;贺杰韬;陈召君 | 申请(专利权)人: | 中国石油大学(北京) |
主分类号: | G01M7/02 | 分类号: | G01M7/02 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 乔媛 |
地址: | 102249*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型提供一种测试MEMS构件振动特性的系统,涉及微结构振动特性测试技术领域,测试MEMS构件振动特性的系统包括隔振台,隔振台上设置有信号发生器、压电陶瓷、激光测振仪、支架和被测的MEMS构件,信号发生器,用于输出振动控制信号,压电陶瓷,与信号发生器相连且顶部设置有被测的MEMS构件,用于接收振动控制信号,在振动控制信号的激励下带动被测的MEMS构件振动,激光测振仪,通过支架设置于被测的MEMS构件的上方,用于测试被测的MEMS构件的振动特性参数,振动特性参数包括振动位移、振动速度、振动加速度和振动频率并输出。本实用新型提供的测试MEMS构件振动特性的系统可以解决现有的振动特性测试系统无法满足MEMS构件测试要求的问题。 | ||
搜索关键词: | 测试 mems 构件 振动 特性 系统 | ||
【主权项】:
一种测试MEMS构件振动特性的系统,其特征在于,所述测试MEMS构件振动特性的系统包括隔振台(10),所述隔振台(10)上设置有信号发生器(20)、压电陶瓷(30)、激光测振仪(40)、支架(50)和被测的MEMS构件(60);其中,所述信号发生器(20),用于输出振动控制信号;所述压电陶瓷(30),与所述信号发生器(20)相连且顶部设置有所述被测的MEMS构件(60),用于接收所述振动控制信号,在所述振动控制信号的激励下带动所述被测的MEMS构件(60)振动;所述激光测振仪(40),通过所述支架(50)设置于所述被测的MEMS构件(60)的上方,用于测试所述被测的MEMS构件(60)的振动特性参数,所述振动特性参数包括振动位移、振动速度、振动加速度和振动频率并输出。
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