[实用新型]一种探针接触测试系统的探针组件有效
| 申请号： | 201720804468.5 | 申请日： | 2017-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN207051321U | 公开（公告）日： | 2018-02-27 |
| 发明（设计）人： | 杨波;刘振辉;韦日文;李景均 | 申请（专利权）人： | 深圳市矽电半导体设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518172 广东省深圳市龙岗区龙城*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种探针接触测试系统的探针组件，解决了常见探针更换不方便的问题，其技术方案要点是，包括若干探针，所述探针包括针杆，设于所述针杆一端的、与待探测件接触以进行检测的探测部，以及，设于所述针杆的相对于所述探测部的一端的、与所述针杆之间弯曲设置的弯曲部；设有供所述弯曲部插入的插孔的、外侧面与所述针杆相抵接的、连接有测试电源的导电杆；以及，与所述导电杆滑动式装配的、内侧面可与所述针杆相抵接的、用于与所述导电杆夹持固定所述针杆的滑移件，达到该探针组件的探针更换方便的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 探针 接触 测试 系统 组件 | ||
【主权项】：
一种探针接触测试系统的探针组件，其特征在于，包括：若干探针(1)，所述探针(1)包括：针杆(11)，设于所述针杆(11)一端的、与待探测件接触以进行检测的探测部(12)，以及，设于所述针杆(11)的相对于所述探测部(12)的一端的、与所述针杆(11)之间弯曲设置的弯曲部(13)；设有供所述弯曲部(13)插入的插孔(21)的、外侧面与所述针杆(11)相抵接的、连接有测试电源的导电杆(2)；以及，与所述导电杆(2)滑动式装配的、内侧面可与所述针杆(11)相抵接的、用于与所述导电杆(2)夹持固定所述针杆(11)的滑移件(3)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市矽电半导体设备有限公司，未经深圳市矽电半导体设备有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201720804468.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种钳形接地电阻测试装置
- 下一篇：电弧焊焊接方法及电弧焊焊接设备
