[实用新型]一种探针接触测试系统有效
| 申请号： | 201720804491.4 | 申请日： | 2017-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN207051322U | 公开（公告）日： | 2018-02-27 |
| 发明（设计）人： | 杨波;刘振辉;韦日文;李景均 | 申请（专利权）人： | 深圳市矽电半导体设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518172 广东省深圳市龙岗区龙城*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种探针接触测试系统，解决了常见探针接触测试系统在使用时，需要驱动体积及重量较大的载片台上下移动的问题，其技术方案要点是，包括机架；设于机架上的、供测试芯粒固定并带动所述测试芯粒沿横向和纵向移动的载片台机构；以及，若干设于所述机架上的、固定有若干对测试芯粒进行接触测试的探针组件的、带动所述探针组件竖向上下移动以接触所述测试芯粒的探针座，达到驱使探针组件上下移动，同样可以实现对测试芯粒进行接触测试的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 探针 接触 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种探针接触测试系统，其特征在于，包括：机架(1)；设于机架(1)上的、供测试芯粒固定并带动所述测试芯粒沿横向和纵向移动的载片台机构(2)；以及，若干设于所述机架(1)上的、固定有若干对测试芯粒进行接触测试的探针组件(7)的、带动所述探针组件(7)竖向上下移动以接触所述测试芯粒的探针座(3)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市矽电半导体设备有限公司，未经深圳市矽电半导体设备有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201720804491.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种复合型的激光焊接机器人
- 下一篇：一种对于管道焊接的激光焊接设备
