[实用新型]InAs/GaSbⅡ类超晶格有效
申请号: | 201720838436.7 | 申请日: | 2017-07-12 |
公开(公告)号: | CN207282503U | 公开(公告)日: | 2018-04-27 |
发明(设计)人: | 曹耀辉;陈建桥 | 申请(专利权)人: | 秦皇岛博硕光电设备股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/0352 | 分类号: | H01L31/0352;H01L31/0304 |
代理公司: | 北京一格知识产权代理事务所(普通合伙)11316 | 代理人: | 赵俊宏 |
地址: | 066000 河北省秦*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本实用新型的目的是针对现有技术由于InAs/GaSbⅡ类超晶格的晶内界面多,使得材料的生长难度提高,材料的生长成本高、生产设备寿命低的不足,提供一种InAs/GaSbⅡ类超晶格,本结构的InAs/GaSbⅡ类超晶格中单位晶胞内部InAs和GaSb的界面层是InSb层,单位晶胞结构为InAs层、InSb层、GaSb层和GaAs层,InSb层在InAs层和GaSb层间,GaAs层在GaSb层外,采用本实用新型结构的InAs/GaSbⅡ类超晶格,减少了单位晶胞内不同材料形成的界面的数量,简化了单位晶胞内材料的结构,降低了晶格的生成难度,同时,由于此种结构打破了现有技术在补偿应力时采用的对称结构,采用了非对称结构平稳应力,不仅减少了材料界面数量,减少了层级,且进一步提高了InAs/GaSbⅡ类超晶格材料的探测波长和探测率。 | ||
搜索关键词: | inas gasb 晶格 | ||
【主权项】:
InAs/GaSbⅡ类超晶格,其特征在于,所述的InAs/GaSbⅡ类超晶格中单位晶胞内部InAs和GaSb的界面层是InSb层,单位晶胞结构为:InAs层、InSb层、GaSb层和GaAs层,InSb层在InAs层和GaSb层间,GaAs层在GaSb层外。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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