[实用新型]一种电子设备真空跌落测试设备有效
| 申请号： | 201720848651.5 | 申请日： | 2017-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN207300529U | 公开（公告）日： | 2018-05-01 |
| 发明（设计）人： | 余刚 | 申请（专利权）人： | 广东小天才科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M7/08 | 分类号： | G01M7/08 |
| 代理公司： | 深圳青年人专利商标代理有限公司44350 | 代理人： | 吴桂华 |
| 地址： | 523000 广东省东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型适用于电子设备跌落测试设备技术领域，公开了一种电子设备真空跌落测试设备，包括设备本体，所述设备本体具有测试腔，所述测试腔连接有抽真空设备，所述测试腔的上方设置有用于夹持电子设备的跌落测试夹持装置，所述跌落测试夹持装置具有用于调节电子设备角度的角度调节机构，所述设备本体的侧面或顶面设置有密封舱门。本实用新型所提供的一种电子设备真空跌落测试设备，其开始测试前，可以先通过抽真空设备对测试腔进行抽真空，使测试腔内处于真空或接近真空状态，以让手机在跌落过程中免受空气阻力影响，不会改变设定的跌落方向，做到精准跌落，可以更精准地模拟真实跌落的情形，测试结果准确度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子设备 真空 跌落 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种电子设备真空跌落测试设备，其特征在于，包括设备本体，所述设备本体具有测试腔，所述测试腔连接有抽真空设备，所述测试腔的上方设置有用于夹持电子设备的跌落测试夹持装置，所述跌落测试夹持装置具有用于调节电子设备角度的角度调节机构，所述设备本体的侧面或顶面设置有密封舱门。
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