[实用新型]晶体光学均匀性的检测装置有效
| 申请号： | 201720855524.8 | 申请日： | 2017-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN206876559U | 公开（公告）日： | 2018-01-12 |
| 发明（设计）人： | 井旭 | 申请（专利权）人： | 济南快谱光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21;G01N21/45 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 250000 山东省济南市*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种晶体光学均匀性的检测装置。包括沿轴线依次设置的相干光源发射器、准直器、起偏器、相位延迟器、晶体放置台、检偏器以及成像接收装置，其中，所述相干光源发射器用于发射光源；所述准直器用于对相干光源进行扩束和光场匀化；所述起偏器用于使相干光源成为完全的线偏振光源；所述相位延迟器用于调整相干光源发出的入射光的偏振态进行调节，所述晶体放置台放置台用于放置待检测晶体，所述检偏器用于对经过待检测的入射光进行检偏，实现偏振干涉成像，所述成像接收装置用于对检偏后的偏正干涉像进行接收显示。本实用新型方法简单、操作方便且利用现有成熟的设备通过组合，大大降低了检测成本，适合大规模推广使用。 | ||
| 搜索关键词： | 晶体 光学 均匀 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种晶体光学均匀性的检测装置，其特征在于，包括沿轴线依次设置的相干光源发射器、准直器、起偏器、相位延迟器、晶体放置台、检偏器以及成像接收装置，其中，所述相干光源发射器用于发射光源；所述准直器用于对相干光源进行扩束和光场匀化；所述起偏器用于使相干光源成为完全的线偏振光源；所述相位延迟器用于调整相干光源发出的入射光的偏振态进行调节，所述晶体放置台用于放置待检测晶体，所述检偏器用于对经过待检测的入射光进行检偏，实现偏振干涉成像，所述成像接收装置用于对检偏后的偏正干涉像进行接收显示。
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