[实用新型]一种检具结构有效
| 申请号： | 201720859674.6 | 申请日： | 2017-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN207147438U | 公开（公告）日： | 2018-03-27 |
| 发明（设计）人： | 李都行;杨灿元;刘星传;张勇;鲁蕾 | 申请（专利权）人： | 亿和精密工业(中山)有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司44205 | 代理人： | 何锦明 |
| 地址： | 528400 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种检具结构，该检具结构通过在检具底板的两个相邻的侧边上分别设置有相互垂直的第一侧立块组和第二侧立块组，并且第一侧立块组、第二侧立块组分别与垂直于检具底板上表面的第二基准面、第三基准面平行，其中第二基准面与第三基准面相互垂直；当需要调试检具时，侧立该检具结构，利用第一侧立块组和第二侧立块组和高度表配合即可调整第一检测针组、第二检测针组和第三检测针组相对于各基准的位置尺寸，从而达到快速调试检具尺寸的目的；同时，通过平放或侧放该检具结构并利用高度表检测即可对产品的尺寸进行检测，从而达到快速测量产品尺寸的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 结构 | ||
【主权项】：
一种检具结构，其特征在于，包括：一检具底板(1)，检具底板(1)上设置有第一基准组件(2)和第二基准组件(3)，所述第一基准组件(2)用于确定平行于检具底板(1)的上表面的第一基准面(A)，所述第二基准组件(3)用于确定垂直于第一基准面(A)的第二基准面(B)以及分别与第一基准面(A)和第二基准面(B)相垂直的第三基准面(C)，检具底板(1)上分别对应设置有垂直于第一基准面(A)、第二基准面(B)及第三基准面(C)的第一检测针组、第二检测针组及第三检测针组，所述检具底板(1)的两个相邻的侧边上分别设置有相互垂直的第一侧立块组(4)和第二侧立块组(5)，所述第一侧立块组(4)与第二基准面(B)相平行，第二侧立块组(5)与第三基准面(C)相平行。
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