[实用新型]多频点辐射抗扰度测试系统有效

专利信息
申请号: 201720868642.2 申请日: 2017-07-18
公开(公告)号: CN207148236U 公开(公告)日: 2018-03-27
发明(设计)人: 李金龙;刘麒;龚增;邹子英;吴佳欢;金善益;马士平 申请(专利权)人: 上海市计量测试技术研究院
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司31211 代理人: 王江富
地址: 201203 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种多频点辐射抗扰度测试系统,其包括射频干扰信号发生器、发射天线、电场探头、场强监视仪、频谱分析仪;发射天线及电场探头均放置在电波暗室内;射频干扰信号发生器输出至少二路射频干扰信号到发射天线,产生辐射抗扰度试验所需电场;电场探头采集电波暗室内的电场强度并传送到场强监视仪;频谱分析仪监测射频干扰信号发生器输出的各路射频干扰信号的功率。本实用新型的多频点辐射抗扰度测试系统,能实现高效的多频点辐射抗扰度试验,缩短产品研发周期,降低测试成本。
搜索关键词: 多频点 辐射 抗扰度 测试 系统
【主权项】:
一种多频点辐射抗扰度测试系统,其特征在于,包括射频干扰信号发生器、发射天线、电场探头、场强监视仪、频谱分析仪;所述发射天线及所述电场探头均放置在电波暗室内;所述射频干扰信号发生器,输出至少二路射频干扰信号到所述发射天线,产生辐射抗扰度试验所需电场;所述电场探头,用于采集电波暗室内的电场强度并传送到所述场强监视仪;所述频谱分析仪,用于监测所述射频干扰信号发生器输出的各路射频干扰信号的功率。
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