[实用新型]一种用于GIS内部缺陷检测的光学探头有效

专利信息
申请号: 201720914182.2 申请日: 2017-07-26
公开(公告)号: CN207074247U 公开(公告)日: 2018-03-06
发明(设计)人: 徐鹏;戴缘生;周谷亮;杨凌辉;董晨晔;高凯;陆启宇;田昊洋 申请(专利权)人: 国网上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司;上海交通大学
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司31225 代理人: 赵志远
地址: 200002 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型涉及一种用于GIS内部缺陷检测的光学探头,该光学探头一端固定在GIS设备的法兰盖板上,另一端伸入到GIS设备腔体内部,该光学探头包括圆形法兰盘、导光棒和盖板,所述的导光棒的一端插入圆形法兰盘中心处,且与外接光纤连接,另一端伸入到GIS设备腔体内部,所述的圆形法兰盘的内端面与法兰盖板紧贴,外端面与盖板的内端面压紧。与现有技术相比,本实用新型具有灵敏度高、抗干扰能力强、导光效果好、检测角度广、多重密封效果好等优点。
搜索关键词: 一种 用于 gis 内部 缺陷 检测 光学 探头
【主权项】:
一种用于GIS内部缺陷检测的光学探头,该光学探头一端固定在GIS设备的法兰盖板上,另一端伸入到GIS设备腔体内部,其特征在于,该光学探头包括圆形法兰盘(1)、导光棒(2)和盖板(3),所述的导光棒(2)的一端插入圆形法兰盘(1)中心处,且与外接光纤连接,另一端伸入到GIS设备腔体内部,所述的圆形法兰盘(1)的内端面与法兰盖板紧贴,外端面与盖板(3)的内端面(3.1)压紧。
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