[实用新型]一种基于发光二极管阵列的自动控制系统测试装置有效

专利信息
申请号: 201720919258.0 申请日: 2017-07-27
公开(公告)号: CN206946307U 公开(公告)日: 2018-01-30
发明(设计)人: 陈春艳 申请(专利权)人: 清远博云软件有限公司
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙)44248 代理人: 孙伟
地址: 511500 广东省清远市高新区科技创新*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及系统测试技术领域,尤其是一种基于发光二极管阵列的自动控制系统测试装置,包括图像传感器、图像处理系统、LED阵列板、测试模块、显示模块、数据处理模块、信号分析模块、信号放大模块和控制电路,LED阵列板通过图像传感器连接图像处理系统,图像处理系统、测试模块、显示模块、数据处理模块、信号分析模块和信号放大模块均连接控制电路,LED阵列板连接显示模块和测试模块。本实用新型有益效果本实用新型设置有图像传感器、图像处理系统、LED阵列板、测试模块、显示模块、数据处理模块、信号分析模块、信号放大模块和控制电路,数据处理模块通过信号分析模块连接信号放大模块,LED阵列板设置有若干个呈矩阵分布的发光二极管。
搜索关键词: 一种 基于 发光二极管 阵列 自动控制系统 测试 装置
【主权项】:
一种基于发光二极管阵列的自动控制系统测试装置,其特征在于:包括图像传感器、图像处理系统、LED阵列板、测试模块、显示模块、数据处理模块、信号分析模块、信号放大模块和控制电路,所述LED阵列板通过图像传感器连接图像处理系统,所述图像处理系统、测试模块、显示模块、数据处理模块、信号分析模块和信号放大模块均连接控制电路,所述LED阵列板连接显示模块和测试模块。
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