[实用新型]线形光源及使用该线形光源的光学检测系统有效
| 申请号： | 201720952004.9 | 申请日： | 2017-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN207217474U | 公开（公告）日： | 2018-04-10 |
| 发明（设计）人： | 陈泳男;郑钦源 | 申请（专利权）人： | 极智光电股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;F21V5/10;F21V5/00;F21Y115/10 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司72003 | 代理人： | 李昕巍,章侃铱 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种线形光源，具有一外壳，多个发光二极管设置于外壳内远离出光面的底部，以及一均光元件设置于外壳内部且位于所述多个发光二极管所发射光线的行进路径上。其中，所述多个发光二极管所发射光线的光谱峰值在365nm至470nm之间，该均光元件具有一均光板与设置在均光板表面的一萤光层，该萤光层能够吸收发光二极管所发射光线后发光。由于均光元件能够同时进行光线均匀化与冷发光，使得线形光源所射出的光线不会因为发光二极管的排列位置而产生明暗不均的现象，进而改善使用此线形光源的光学检测系统的检测准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 线形 光源 使用 光学 检测 系统 | ||
【主权项】：
一种线形光源，包含有：一外壳，具有一出光面；多个发光二极管，设置于该外壳内远离该出光面的一底部，所发射光线的光谱峰值在365nm至470nm之间；以及一均光元件，设置于该外壳内部且位于所述多个发光二极管所发射光线的行进路径上，该均光元件具有一均光板与设置在该均光板表面的一萤光层，该萤光层能够吸收所述多个发光二极管所发射光线后发光。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于极智光电股份有限公司，未经极智光电股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201720952004.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
