[实用新型]一种IC功能测试治具有效

专利信息
申请号: 201721004205.2 申请日: 2017-08-11
公开(公告)号: CN206975175U 公开(公告)日: 2018-02-06
发明(设计)人: 阚磊 申请(专利权)人: 惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司44102 代理人: 陈卫,禹小明
地址: 516006 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及一种IC功能测试治具,包括PCB板、下针板、浮板、盖板、IC夹套、压块、上盖、旋钮、底板及显示屏;所述PCB板一侧固定安装在底板上,所述PCB板相对另一侧与下针板电信号连接,所述浮板上设有与下针板形状相符的通孔,所述下针板嵌接在浮板上,所述盖板上设有与浮板形状相符的通孔,所述浮板嵌接在盖板上;所述盖板在与PCB板相背的一侧设有IC夹套及压块,所述IC夹套及压块依次置于下针板上侧,所述压块在与下针板相背一侧与所述旋钮连接,所述上盖设置在所述旋钮与所述压块之间,所述PCB板与显示屏电信号连接。与现有技术相比较,上述IC功能测试治具可以完全排除PCB板的影响及焊接产生的问题,对IC的功能是否正常进行了更为有效的验证。
搜索关键词: 一种 ic 功能 测试
【主权项】:
一种IC功能测试治具,其特征在于,包括PCB板(1)、下针板(3)、浮板(4)、盖板(5)、IC夹套(8)、压块(7)、上盖(10)、旋钮(9)、底板(2)及显示屏(19);所述PCB板(1)一侧固定安装在底板(2)上,所述PCB板(1)相对另一侧与下针板(3)电信号连接,所述浮板(4)上设有与下针板(3)形状相符的通孔,所述下针板(3)嵌接在浮板(4)上,所述盖板(5)上设有与浮板(4)形状相符的通孔,所述浮板(4)嵌接在盖板(5)上;所述盖板(5)在与PCB板(1)相背的一侧设有IC夹套(8)及压块(7),所述IC夹套(8)及压块(7)依次置于下针板(3)上侧,所述压块(7)在与下针板(3)相背一侧与所述旋钮(9)连接,所述上盖(10)设置在所述旋钮(9)与所述压块(7)之间,所述PCB板(1)与显示屏(19)电信号连接。
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