[实用新型]一种热处理工件锥面检测装置有效
| 申请号： | 201721042834.4 | 申请日： | 2017-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN207300173U | 公开（公告）日： | 2018-05-01 |
| 发明（设计）人： | 刘芳洲 | 申请（专利权）人： | 天津天鑫旺达金属热处理有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 天津合志慧知识产权代理事务所(普通合伙)12219 | 代理人： | 宋西磊 |
| 地址： | 300402 天*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种热处理工件锥面检测装置，其结构包括脚垫、底座、数显器、电缆、光栅测量装置、固定装置、立柱，脚垫与底座相连接，底座安装有立柱，立柱设有固定装置，固定装置设在光栅测量装置前方，光栅测量装置通过电缆与数显器相连接，光栅测量装置由上端盖、读数头、光栅尺、导轨、下端盖组成，上端盖与导轨一端相连接，导轨另一端与下端盖相连接，导轨设有光栅尺，导轨与读数头活动连接，本实用新型的一种热处理工件锥面检测装置，通过设有光栅测量装置，检测精度高，不易产生误差，操作简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 热处理 工件 锥面 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种热处理工件锥面检测装置，其结构包括脚垫(1)、底座(2)、数显器(3)、电缆(4)、光栅测量装置(5)、固定装置(6)、立柱(7)，所述脚垫(1)与底座(2)相连接，其特征在于：所述底座(2)安装有立柱(7)，所述立柱(7)设有固定装置(6)，所述固定装置(6)设在光栅测量装置(5)前方，所述光栅测量装置(5)通过电缆(4)与数显器(3)相连接，所述光栅测量装置(5)由上端盖(501)、读数头(502)、光栅尺(503)、导轨(504)、下端盖(505)组成，所述上端盖(501)与导轨(504)一端相连接，所述导轨(504)另一端与下端盖(505)相连接，所述导轨(504)设有光栅尺(503)，所述导轨(504)与读数头(502)活动连接。
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