[实用新型]一种功率半导体器件冷热循环测试装置有效
| 申请号： | 201721089176.4 | 申请日： | 2017-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN207114710U | 公开（公告）日： | 2018-03-16 |
| 发明（设计）人： | 樊嘉杰;杨琦;施舜锴;谢超逸 | 申请（专利权）人： | 河海大学常州校区 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司32224 | 代理人： | 董建林 |
| 地址： | 213022 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种功率半导体器件冷热循环测试装置，其特征是，包括固定装置、制冷装置，制热装置和中央控制器，所述固定装置从上至下依次包括固定板、导热板以及支撑板，固定装置用于将被老化器件固定在导热板上，所述导热板分别与制冷装置和制热装置连接，所述中央控制器也分别与制冷装置和加热装置连接，中央控制器用于控制制冷装置或制热装置给导热板降温或升温。优点本实用新型基于制冷系统和加热云母片进行冷热循环，操作简单，灵活性高，测量成本低。本实用新型可以解决现有功率半导体器件可靠性测试温度循环方面的难题，探索温度变化对器件的影响并测量其参数变化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 功率 半导体器件 冷热 循环 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种功率半导体器件冷热循环测试装置，其特征是，包括固定装置、制冷装置，制热装置和中央控制器，所述固定装置从上至下依次包括固定板、导热板以及支撑板，固定装置用于将被老化器件固定在导热板上，所述导热板分别与制冷装置和制热装置连接，所述中央控制器也分别与制冷装置和加热装置连接，中央控制器用于控制制冷装置或制热装置给导热板降温或升温。
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