[实用新型]探针测试装置有效
| 申请号： | 201721093173.8 | 申请日： | 2017-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN207301262U | 公开（公告）日： | 2018-05-01 |
| 发明（设计）人： | 曾长鋆 | 申请（专利权）人： | 深圳市信维通信股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/073 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所44275 | 代理人： | 张明 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种探针测试装置，包括探针和PCB板，还包括连接结构，所述探针通过所述连接结构与PCB板电连接，所述连接结构包括交替层叠的导电层和连接层，所述连接结构的最底层与所述探针的一端固定连接，所述连接结构的最顶层与所述PCB板固定连接。可以通过改变连接层和导电层的层数来满足不同的测试高度，不需要准备不同长度的探针，不会安装出错，并且不同的测试高度可以共用探针，可以节约成本，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 探针 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种探针测试装置，包括探针和PCB板，其特征在于，还包括连接结构，所述探针通过所述连接结构与PCB板电连接，所述连接结构包括交替层叠的导电层和连接层，所述连接结构的最底层与所述探针的一端固定连接，所述连接结构的最顶层与所述PCB板固定连接。
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