[实用新型]全自动半导体元器件X射线检测设备有效

专利信息
申请号: 201721116179.2 申请日: 2017-09-01
公开(公告)号: CN207423836U 公开(公告)日: 2018-05-29
发明(设计)人: 刘骏;王鹏涛;陈君;辛晨 申请(专利权)人: 无锡日联科技股份有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;H01L21/66
代理公司: 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 代理人: 滕诣迪
地址: 214000 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型涉及一种X射线检测技术,具体为一种自动化X射线检测、点料、上料和下料从而提高生产效率的全自动半导体元器件X射线检测设备,包括上料工位、待测料盘、扫码组件和铅房,待测料盘设在上料工位上,扫码组件设在上料工位上且正对待测料盘,铅房上设有用于待测料盘进入的电动升降门,铅房内设有在测料盘放卷机构、测料盘放卷机构上方设有撕胶带部件和CCD相机,在测料盘放卷机构与收料盘机构水平高度一致,X‑ray光管设在铅房中且位于在测料盘放卷机构和收料盘机构之间,FPD成像机构在X‑ray光管上方,在测料盘放卷机构和收料盘机构之间设有辅轮组件和张力感应组件,收料盘机构上设有贴胶带机构。
搜索关键词: 料盘 放卷机构 收料盘 铅房 上料工位 半导体元器件 光管 本实用新型 电动升降门 贴胶带机构 成像机构 高度一致 机构水平 胶带部件 生产效率 张力感应 辅轮 上料 下料 自动化
【主权项】:
1.一种全自动半导体元器件X射线检测设备,包括上料工位(0)、待测料盘(1)、扫码组件(25)和铅房(3),所述待测料盘(1)设在上料工位(0)上,所述扫码组件(25)设在上料工位(0)上且正对待测料盘(1),所述铅房(3)上设有用于待测料盘(1)进入的电动升降门(26),所述铅房(3)内设有在测料盘放卷机构(14)、所述测料盘放卷机构(14)上方设有撕胶带部件(15)和CCD相机(16),在测料盘放卷机构(14)与收料盘机构(22)水平高度一致,X-ray光管(19)设在铅房(3)中且位于在测料盘放卷机构(14)和收料盘机构(22)之间,FPD成像机构(17)在X-ray光管(19)上方,所述在测料盘放卷机构(14)和收料盘机构(22)之间还设有辅轮组件(18)和张力感应组件(20),所述收料盘机构(22)上设有贴胶带机构(21),还包括胶带机(23),所述胶带机(23)设在铅房(3)内且为贴胶带机构(21)供料,还包括下料工位(8),所述下料工位(8)上设有下料盘机械手(7)和打标机(24),还包括牵引料带机构(11),所述铅房(3)上设有触摸屏电控模块(6),所述触摸屏电控模块(6)分别与电动升降门(26)、测料盘放卷机构(14)、撕胶带部件(15)、CCD相机(16)、X-ray光管(19)、收料盘机构(22)、牵引料带机构(11)、张力感应组件(20)和下料盘机械手(7)信号连接。
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