[实用新型]一种芯片烧录测试机有效
| 申请号： | 201721129064.7 | 申请日： | 2017-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN207336707U | 公开（公告）日： | 2018-05-08 |
| 发明（设计）人： | 冯科;肖玮;欧玉发;秦建伟;梅得军;李晓华 | 申请（专利权）人： | 上达电子(深圳)股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 唐致明 |
| 地址： | 518104 广东省深圳市宝安区沙井街道黄*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片烧录测试机，包含：上料装置、烧录装置和封装装置，上料装置与烧录装置匹配，上料装置为烧录装置提供连续的物料，烧录装置包括多工位转盘，封装装置与多工位转盘匹配，封装装置用于封装物料。通过设置上料装置、烧录装置及封装装置实现芯片从包裹状态到烧录检测再到成品封装的全自动化操作，又通过设置机械手及多工位转盘实现芯片的连续高速送料，极大程度上提高了烧录测试机的工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 | ||
【主权项】：
1.一种芯片烧录测试机，其特征在于，包含：上料装置、烧录装置和封装装置，所述上料装置与所述烧录装置匹配，所述上料装置为所述烧录装置提供连续的物料，所述烧录装置包括多工位转盘，所述封装装置与所述多工位转盘匹配，所述封装装置用于封装物料。
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