[实用新型]一种主轴回转误差实验平台有效

专利信息
申请号: 201721138304.X 申请日: 2017-09-06
公开(公告)号: CN207366184U 公开(公告)日: 2018-05-15
发明(设计)人: 陈野;赵相松;张大卫;胡高峰 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01M13/00 分类号: G01M13/00
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 杜文茹
地址: 300350 天津市津南区海*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种主轴回转误差实验平台,工作台上由前至后依次设置有位移传感器支架固定座、光电传感器支架、第一固定支架和第二固定支架,第一固定支架和第二固定支架分别支撑待测主轴的前部和后部,待测主轴的前端通过待测主轴的端键固定设置有主轴刀柄,主轴刀柄位于光电传感器支架一侧,且主轴刀柄的前端插入有检验棒,光电传感器支架上对应主轴刀柄设置有用于获取主轴刀柄转速信息的光电传感器,位移传感器支架固定座上对应检验棒固定设置有用于支撑和调整位移传感器位置的位移传感器支架组件,用于获取检验棒位移状态信息的位移传感器位于检验棒的上方。本实用新型利用高性能的模块化硬件实现全方位的系统集成,完成主轴回转误差与检验棒的圆度误差分离研究。
搜索关键词: 一种 主轴 回转 误差 实验 平台
【主权项】:
1.一种主轴回转误差实验平台,包括工作台(1),其特征在于,所述工作台(1)上由前至后依次设置有位移传感器支架固定座(2)、光电传感器支架(12)、第一固定支架(15a)和第二固定支架(15b),所述第一固定支架(15a)和第二固定支架(15b)分别支撑待测主轴(14)的前部和后部,所述待测主轴(14)的前端通过待测主轴的端键(14a)固定设置有主轴刀柄(7),所述主轴刀柄(7)位于所述的光电传感器支架(12)一侧,且主轴刀柄(7)的前端插入有检验棒(10),所述光电传感器支架(12)上对应所述主轴刀柄(7)设置有用于获取主轴刀柄(7)转速信息的光电传感器(13),所述位移传感器支架固定座(2)上对应检验棒(10)固定设置有用于支撑和调整位移传感器(6)位置的位移传感器支架组件,用于获取检验棒(10)位移状态信息的位移传感器(6)位于检验棒(10)的上方。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津大学,未经天津大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201721138304.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top