[实用新型]用于将TAP信号耦合到JTAG接口的电路系统有效

专利信息
申请号: 201721172722.0 申请日: 2017-09-13
公开(公告)号: CN207601244U 公开(公告)日: 2018-07-10
发明(设计)人: V·N·斯里尼瓦桑;M·沙玛 申请(专利权)人: 意法半导体国际有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华
地址: 荷兰阿*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 本公开的实施例涉及用于将TAP信号耦合到JTAG接口的电路系统。IC中的JTAG接口包括:接收测试模式选择(TMS)信号的TMS引脚;具有TMS信号输入的测试用测试访问端口(TAP);具有TMS信号输入的调试测试访问端口(TAP);以及胶合逻辑,被耦合以从测试用TAP接收第一输出,并从调试用TAP接收第二输出。触发器通过胶合逻辑接收来自测试用TAP和调试用TAP的输入。第一AND门具有耦合到调试用TAP的TMS信号输入的输出,并且从触发器的输出和TMS信号接收输入。反相器具有被耦合以从触发器接收输入的输入。第二AND门具有耦合到测试用TAP的TMS信号输入的输出,并且从TMS信号和反相器的输出接收输入。
搜索关键词: 输出 接收输入 调试 触发器 测试 测试访问端口 电路系统 胶合逻辑 信号耦合 耦合 反相器 耦合到 接收测试 模式选择
【主权项】:
1.一种用于将TAP信号耦合到JTAG接口的电路系统,所述JTAG接口在集成电路封装件中,其特征在于,所述电路系统包括:TMS引脚,被配置为接收测试模式选择信号;具有测试模式选择信号输入的测试用TAP;具有测试模式选择信号输入的调试用TAP;胶合逻辑,被耦合以从所述测试用TAP接收第一输出,并从所述调试用TAP接收第二输出;触发器,通过所述胶合逻辑接收来自所述测试用TAP和所述调试用TAP的输入;第一AND门,具有耦合到所述调试用TAP的所述测试模式选择信号输入的输出,并且从所述触发器的输出和所述测试模式选择信号接收输入;反相器,具有被耦合以接收来自所述触发器的输入的输入;第二AND门,具有耦合到所述测试用TAP的所述测试模式选择信号输入的输出,并且从所述测试模式选择信号和所述反相器的输出接收输入。
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