[实用新型]液晶玻璃基板研磨幅粗糙度辅助测量装置和测量系统有效
| 申请号： | 201721246186.4 | 申请日： | 2017-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN207163391U | 公开（公告）日： | 2018-03-30 |
| 发明（设计）人： | 张北斗;李兆廷;石志强;李震;李俊生 | 申请（专利权）人： | 芜湖东旭光电科技有限公司;东旭光电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/28 | 分类号： | G01B5/28 |
| 代理公司： | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)11447 | 代理人： | 郑永胜,陈庆超 |
| 地址： | 241000 安徽省芜湖*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种液晶玻璃基板研磨幅粗糙度辅助测量装置和测量系统，所述装置包括基座、玻璃基板固定板和玻璃基板高度限位块，所述基座上设置有用于将基座固定在粗糙度测量仪的载物台上的固定机构，所述玻璃基板固定板为间隔设置的两块且沿高度方向垂直于所述基座，两块所述玻璃基板固定板中沿高度方向贯穿有用于固定同一块玻璃基板的卡槽，所述玻璃基板固定板的侧面设置有紧固插入所述卡槽中的玻璃基板的紧固件，所述玻璃基板高度限位块为两块且通过开口分别设置在一块玻璃基板固定板的上方。本公开的研磨幅粗糙度辅助测量装置和测量系统能够简单快速地使玻璃基板满足研磨幅粗糙度测量要求，使测量系统更加可靠科学。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 玻璃 研磨 粗糙 辅助 测量 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种液晶玻璃基板研磨幅粗糙度辅助测量装置，其特征在于，所述装置包括基座(1)、玻璃基板固定板(4)和玻璃基板高度限位块(5)，所述基座(1)上设置有用于将基座(1)固定在粗糙度测量仪的载物台上的固定机构(2)，所述玻璃基板固定板(4)为间隔设置的两块且沿高度方向垂直于所述基座(1)，两块所述玻璃基板固定板(4)中沿高度方向贯穿有用于固定同一块玻璃基板(3)的卡槽(41)，所述玻璃基板固定板(4)的侧面设置有紧固插入所述卡槽(41)中的玻璃基板的紧固件(6)，所述玻璃基板高度限位块(5)为两块且通过开口分别设置在一块玻璃基板固定板(4)的上方。
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