[实用新型]一种针对内置IC的LED材料的进行控制和光学测试的设备有效
| 申请号： | 201721267954.4 | 申请日： | 2017-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN207456744U | 公开（公告）日： | 2018-06-05 |
| 发明（设计）人： | 王锋;刘建东;陆军 | 申请（专利权）人： | 苏州索拉科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 董建林 |
| 地址： | 215006 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种针对内置IC的LED材料进行控制和光学测试的设备，包括：上位机，所述上位机通过第一通讯模块与测试驱动板卡通讯传递测试信息，通过第二通讯模块与光学测试设备通讯传递测试信息；测试驱动板卡，用于驱动IC_LED材料的点亮；所述测试驱动板卡与上位机通讯进行光学测试，并实现材料串出校验功能；光学测试设备，用于对所述测试驱动板卡点亮的IC_LED材料进行光学测试，并输出光学测试数据。大大降低了预算成本，性价比较高，应用于流水线生产，结合光学测试结果和校验结果，能同步进行分选，同时保证测试的精准度和流水生产的速度。 | ||
| 搜索关键词： | 光学测试 测试驱动 板卡 光学测试设备 测试信息 上位机 点亮 内置 第二通讯模块 第一通讯模块 光学测试结果 本实用新型 流水线生产 上位机通讯 流水生产 校验结果 预算成本 校验 精准度 传递 通讯 分选 测试 驱动 输出 应用 保证 | ||
【主权项】：
一种针对内置IC的LED材料进行控制和光学测试的设备，其特征在于：包括：上位机，所述上位机通过第一通讯模块与测试驱动板卡通讯传递测试信息，通过第二通讯模块与光学测试设备通讯传递测试信息；测试驱动板卡，用于驱动IC_LED材料的点亮；所述测试驱动板卡与上位机通讯进行光学测试，并实现材料串出校验功能；光学测试设备，用于对所述测试驱动板卡点亮的IC_LED材料进行光学测试，并输出光学测试数据。
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