[实用新型]一种四层PCB铜厚测试模块

摘要

本实用新型公开了一种四层PCB铜厚测试模块，包括模块本体，所述模块本体包括第一层测试板、第二层测试板、第三层测试板和第四层测试板，每层测试板的一端皆沿长度方向等间距设有五组测试孔组，相邻两层测试板之间的测试孔一一对应且相通；第一层测试板设有第一层铜线，第二层测试板设有第二层铜线和第二层备用铜线，第三层测试板设有第三层铜线和第三层备用铜线，第四层测试板设有第四层铜线。本实用新型提供一种四层PCB铜厚测试模块，适用于四层PCB成品测试流程，通过测试模块直流电阻的变化侦测铜厚是否合乎设计规格，避免破坏性测试导致PCB的报废。

主权项

一种四层PCB铜厚测试模块，其特征在于：包括模块本体，所述模块本体包括第一层测试板(1)、第二层测试板(2)、第三层测试板(3)和第四层测试板(4)，将测试板的长度方向定义为前后方向且宽度方向定义为左右方向，每层测试板的前端皆设有等间距分布的五组测试孔组且分别是：位于第一层测试板的五组测试孔组：由前往后依次为第一层第四组测试孔组、第一层第三组测试孔组、第一层第二组测试孔组、第一层第一组测试孔组和第一层备用测试孔组，所述第一层第四组测试孔组包括右侧的第一层四组测试孔一(141)和左侧的第一层四组测试孔二(142)，所述第一层第三组测试孔组包括右侧的第一层三组测试孔一(131)和左侧的第一层三组测试孔二(132)，所述第一层第二组测试孔组包括右侧的第一层二组测试孔一(121)和左侧的第一层二组测试孔二(122)，所述第一层第一组测试孔组包括右侧的第一层一组测试孔一(111)和左侧的第一层一组测试孔二(112)，所述第一层备用测试孔组包括右侧的第一层备用测试孔一(101)和左侧的第一层备用测试孔二(102)；所述第一层测试板设有第一层铜线(11)，所述第一层铜线的一端连接第一层一组测试孔一且另一端连接第一层一组测试孔二，所述第一层铜线在第一层第一组测试孔组与第一层测试板的后端之间来回折返；位于第二层测试板的五组测试孔组：由前往后依次为第二层第四组测试孔组、第二层第三组测试孔组、第二层第二组测试孔组、第二层第一组测试孔组和第二层备用测试孔组，所述第二层第四组测试孔组包括右侧的第二层四组测试孔一和左侧的第二层四组测试孔二，所述第二层第三组测试孔组包括右侧的第二层三组测试孔一和左侧的第二层三组测试孔二，所述第二层第二组测试孔组包括右侧的第二层二组测试孔一(221)和左侧的第二层二组测试孔二(222)，所述第二层第一组测试孔组包括右侧的第二层一组测试孔一和左侧的第二层一组测试孔二，所述第二层备用测试孔组包括右侧的第二层备用测试孔一(201)和左侧的第二层备用测试孔二(202)；所述第二层测试板设有第二层铜线(21)和第二层备用铜线(20)，所述第二层备用铜线设于所述第二层铜线的外围，所述第二层铜线(21)的一端连接第二层二组测试孔一(221)且另一端连接第二层二组测试孔二(222)，所述第二层铜线在第二层第二组测试孔组与第二层测试板的后端之间来回折返，所述第二层备用铜线的一端连接第二层备用测试孔一(201)且另一端连接第二层备用测试孔二(202)，所述第二层备用铜线(20)在所述第二层铜线(21)的后端与第二层测试板的后端之间来回折返；位于第三层测试板的五组测试孔组：由前往后依次为第三层第四组测试孔组、第三层第三组测试孔组、第三层第二组测试孔组、第三层第一组测试孔组和第三层备用测试孔组，所述第三层第四组测试孔组包括右侧的第三层四组测试孔一和左侧的第三层四组测试孔二，所述第三层第三组测试孔组包括右侧的第三层三组测试孔一(331)和左侧的第三层三组测试孔二(332)，所述第三层第二组测试孔组包括右侧的第三层二组测试孔一(321)和左侧的第三层二组测试孔二，所述第三层第一组测试孔组包括右侧的第三层一组测试孔一和左侧的第三层一组测试孔二，所述第三层备用测试孔组包括右侧的第三层备用测试孔一(301)和左侧的第三层备用测试孔二(302)；所述第三层测试板设有第三层铜线(31)和第三层备用铜线(30)，所述第三层备用铜线(30)设于所述第三层铜线(31)的外围，所述第三层铜线(31)的一端连接第三层三组测试孔一(331)且另一端连接第三层三组测试孔二(332)，所述第三层铜线在第三层第三组测试孔组与第三层测试板的后端之间来回折返，所述第三层备用铜线的一端连接第三层二组测试孔一(321)且另一端连接第三层备用测试孔二(302)，所述第三层备用铜线(30)在第三层铜线(31)的后端与第三层测试板的后端之间来回折返；位于第四层测试板的五组测试孔组：由前往后依次为第四层第四组测试孔组、第四层第三组测试孔组、第四层第二组测试孔组、第四层第一组测试孔组和第四层备用测试孔组，所述第四层第四组测试孔组包括右侧的第四层四组测试孔一(441)和左侧的第四层四组测试孔二(442)，所述第四层第三组测试孔组包括右侧的第四层三组测试孔一和左侧的第四层三组测试孔二，所述第四层第二组测试孔组包括右侧的第四层二组测试孔一和左侧的第四层二组测试孔二，所述第四层第一组测试孔组包括右侧的第四层一组测试孔一和左侧的第四层一组测试孔二，所述第四层备用测试孔组包括右侧的第四层备用测试孔一和左侧的第四层备用测试孔二；所述第四层测试板设有第四层铜线，所述第四层铜线的一端连接第四层四组测试孔一且另一端连接第四层四组测试孔二，所述第四层铜线在第四层第四组测试孔组与第四层测试板的后端之间来回折返；相邻两层测试板之间的测试孔一一对应且相通。