[实用新型]一种漏磁检测探头支架耐久性测试装置有效

专利信息
申请号: 201721277361.6 申请日: 2017-09-30
公开(公告)号: CN207280739U 公开(公告)日: 2018-04-27
发明(设计)人: 王继锋;汤晓英 申请(专利权)人: 上海市特种设备监督检验技术研究院
主分类号: G01M13/00 分类号: G01M13/00
代理公司: 上海泰能知识产权代理事务所31233 代理人: 宋缨,钱文斌
地址: 200062 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型涉及一种漏磁检测探头支架耐久性测试装置,包括支架,所述支架的底部设置有安装座,所述支架的上方设置有压板,所述压板和安装座之间用于放置待测探头支架,所述待测探头支架的探测盒与压板接触,所述待测探头支架的板簧安装在所述安装座上;所述压板还与驱动机构相连,所述驱动机构用于控制压板进行上下往复运动。本实用新型,能够对探头支架的耐久性进行测试。
搜索关键词: 一种 检测 探头 支架 耐久性 测试 装置
【主权项】:
一种漏磁检测探头支架耐久性测试装置,包括支架(1),其特征在于,所述支架(1)的底部设置有安装座,所述支架(1)的上方设置有压板(4),所述压板(4)和安装座之间用于放置待测探头支架,所述待测探头支架的探测盒(2)与压板(4)接触,所述待测探头支架的板簧(6)安装在所述安装座上;所述压板(4)还与驱动机构(5)相连,所述驱动机构(5)用于控制压板(4)进行上下往复运动。
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