[实用新型]一种天线测试系统扫描单元及装置有效

专利信息
申请号: 201721278838.2 申请日: 2017-09-30
公开(公告)号: CN207352077U 公开(公告)日: 2018-05-11
发明(设计)人: 韩鹰梅 申请(专利权)人: 韩鹰梅
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 北京爱普纳杰专利代理事务所(特殊普通合伙) 11419 代理人: 何自刚
地址: 570203 海*** 国省代码: 海南;46
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摘要: 实用新型公开一种天线测试系统扫描单元及装置,用于提升多探头间磁场的一致性,降低探头极化间场环境不均匀数,减少测量误差,其结构包括:探头承载装置和双极化探头;探头承载装置的设置数量为多个,多个探头承载装置呈直线状排列分布;每个探头承载装置上均至少固定设置有一个双极化探头,每个双极化探头任意一个极片与探头承载装置的排列方向所成的线面角的大小均为45°±10°;当探头承载装置上固定设置有多个双极化探头时,多个双极化探头在探头承载装置上,垂直于探头承载装置的排列方向呈直线状排列分布;天线测试系统扫描单元上设置的所有双极化探头,呈现矩形阵列状分布。本实用新型能够减少天线测试系统扫描装置的测量误差。
搜索关键词: 一种 天线 测试 系统 扫描 单元 装置
【主权项】:
1.一种天线测试系统扫描单元,包括探头承载装置和双极化探头;所述探头承载装置的设置数量为多个,多个所述探头承载装置呈直线状排列分布;每个所述探头承载装置上均至少固定设置有一个所述双极化探头,其特征在于,每个所述双极化探头任意一个极片与所述探头承载装置的排列方向所成的线面角的大小均为45°±10°;当所述探头承载装置上固定设置有多个双极化探头时,多个双极化探头在所述探头承载装置上,垂直于所述探头承载装置的排列方向呈直线状排列分布;所述天线测试系统扫描单元上设置的所有双极化探头,呈现矩形阵列状分布。
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