[实用新型]一种分选装置有效
| 申请号： | 201721298241.4 | 申请日： | 2017-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN207343266U | 公开（公告）日： | 2018-05-11 |
| 发明（设计）人： | 姜兵兵;沈蓓颖;沈思情;刘浦锋;宋洪伟;陈猛 | 申请（专利权）人： | 上海超硅半导体有限公司 |
| 主分类号： | B07B13/04 | 分类号： | B07B13/04 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 201604 上海市松*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种分选装置，属于晶片尺寸检测技术领域，为解决现有技术效率低等问题而设计。本实用新型分选装置包括从上至下依次设置的至少两个分选单元，每个分选单元均具有分选空隙；沿从上至下的方向各个分选单元的分选空隙的一侧对齐或中心对齐，且沿从上至下的方向各个分选空隙的横向尺寸依次递减；被分选的产品从上至下跌落时，分选空隙用于供被分选的产品穿过或用于阻拦被分选的产品以对被分选的产品进行尺寸分级。本实用新型分选装置结构简单，分选效率高，且能降低人工误判及手误的概率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 分选 装置 | ||
【主权项】：
1.一种分选装置，其特征在于，包括从上至下依次设置的至少两个分选单元，每个所述分选单元均具有分选空隙；沿从上至下的方向各个所述分选单元的所述分选空隙的一侧对齐或中心对齐，且沿从上至下的方向各个所述分选空隙的横向尺寸依次递减；被分选的产品从上至下跌落时，所述分选空隙用于供被分选的产品穿过或用于阻拦被分选的产品以对被分选的产品进行尺寸分级。
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