[实用新型]一种针入度测试系统的控制电路

摘要

本实用新型公开了一种针入度测试系统的控制电路，涉及控制领域，该电路包括：MCU、彩色液晶屏、探针控制模块和位移检测模块，探针控制模块中包括电磁铁，电磁铁用于吸附针入度测试中所用的探针，探针设置在沥青试模上方且恰好与沥青试模的表面接触，位移检测模块中包括位移传感器；MCU分别连接彩色液晶屏的命令/数据控制端口、读端口、写端口和N个数据端口，N为正整数；MCU还分别连接探针控制模块和位移检测模块；本申请公开的针入度测试系统采用彩色液晶屏进行显像，使得整个系统可以在针入度测试过程中通过彩色液晶屏同时展示针入度测试过程中涉及到的各类信息，提供的信息量大，展示效果较好较直观。

主权项

1.一种针入度测试系统的控制电路，其特征在于，所述电路包括：微控制单元MCU、彩色液晶屏、探针控制模块和位移检测模块，所述探针控制模块中包括电磁铁，所述电磁铁用于吸附针入度测试中所用的探针，所述探针设置在沥青试模上方且恰好与所述沥青试模的表面接触，所述位移检测模块中包括位移传感器；所述MCU分别连接所述彩色液晶屏的命令/数据控制端口、读端口、写端口和N个数据端口，N为正整数；所述MCU还分别连接所述探针控制模块和所述位移检测模块。