[实用新型]一种多通道老化和耐久性通断试验设备的线路结构有效

专利信息
申请号: 201721314861.2 申请日: 2017-10-12
公开(公告)号: CN207424640U 公开(公告)日: 2018-05-29
发明(设计)人: 谢冬平;黄卫;程哲 申请(专利权)人: 上海均诺电子有限公司
主分类号: G05B19/05 分类号: G05B19/05
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201611 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请提供了一种多通道老化和耐久性通断试验设备的线路结构,包括PLC控制器、文本显示器、电源模块、保险丝和DUT接线端口,所述电源模块与PLC控制器连接,所述PLC控制器与文本显示器连接并为文本显示器提供电源,所述电源模块输出直流电经过保险丝和PLC控制器的I/O连接至DUT接线端口为DUT测试时提供电源。本申请通过PLC控制器进行可编程控制,文本显示器操作设置,提供一种构造简单、成本低廉、操作简单、功能丰富、可编程控制的多通道老化和耐久性通断试验设备线路结构。
搜索关键词: 文本显示器 电源模块 试验设备 线路结构 多通道 通断 保险丝 可编程控制 接线端口 老化 电源 输出直流电 操作设置 申请
【主权项】:
1.一种多通道老化和耐久性通断试验设备的线路结构,其特征在于,包括PLC控制器(1)、文本显示器(2)、电源模块(3)、保险丝(4)和DUT接线端口(5),所述电源模块(3)与PLC控制器(1)连接,所述PLC控制器(1)与文本显示器(2)连接并为文本显示器(2)提供电源,所述电源模块(3)输出直流电经过保险丝(4)和PLC控制器(1)的I/O连接至DUT接线端口(5)为DUT测试时提供电源。
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