[实用新型]晶圆级芯片封装结构有效
申请号: | 201721319985.X | 申请日: | 2017-10-13 |
公开(公告)号: | CN207250483U | 公开(公告)日: | 2018-04-17 |
发明(设计)人: | 陈彦亨;林正忠;吴政达 | 申请(专利权)人: | 中芯长电半导体(江阴)有限公司 |
主分类号: | H01L23/00 | 分类号: | H01L23/00;H01L23/31;H01L23/488;H01L21/98 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙)31219 | 代理人: | 佟婷婷 |
地址: | 214437 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型提供一种晶圆级芯片封装结构,结构包括半导体芯片;重新布线层,位于半导体芯片的正面,且与半导体芯片电连接;焊料凸块,位于重新布线层远离半导体芯片的表面,且与重新布线层电连接;以及保护材料层,塑封于半导体芯片、重新布线层以及焊料凸块的外围,且保护材料层的上表面不高于焊料凸块的上表面,保护材料层的下表面与半导体芯片的背面相平齐。本实用新型提供的封装结构和方法,保护材料层将半导体芯片及介质层的侧壁塑封,可以有效避免外部的水汽渗入到介质层内,使得介质层不容易破裂,防止外力对所述介质层破坏的作用,可以形成五面封装结构和六面封装结构,工艺成本低,材料结构简单。 | ||
搜索关键词: | 晶圆级 芯片 封装 结构 | ||
【主权项】:
一种晶圆级芯片封装结构,其特征在于,所述晶圆级芯片封装结构包括:半导体芯片;重新布线层,位于所述半导体芯片的正面,且与所述半导体芯片电连接;焊料凸块,位于所述重新布线层远离所述半导体芯片的表面,且与所述重新布线层电连接;以及保护材料层,塑封于所述半导体芯片、所述重新布线层以及所述焊料凸块的外围,且所述保护材料层的上表面不高于所述焊料凸块的上表面,所述保护材料层的下表面与所述半导体芯片的背面相平齐。
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