[实用新型]一种用于制备金相试样的夹具有效

专利信息
申请号: 201721401632.4 申请日: 2017-10-27
公开(公告)号: CN207372960U 公开(公告)日: 2018-05-18
发明(设计)人: 高中堂 申请(专利权)人: 西安科技大学
主分类号: B24B41/06 分类号: B24B41/06;G01N1/32
代理公司: 西安智萃知识产权代理有限公司 61221 代理人: 李炳辉
地址: 710000 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型涉及一种用于制备金相试样的夹具,包括上夹块、下夹块以及穿设所述上夹块和下夹块之间的螺栓,所述螺栓分布于所述上夹块和下夹块左右两端,所述上夹块的底面中间位置设置有一凸起,所述下夹块的顶面中间位置设置有一凹槽,所述凸起伸入所述凹槽内,以实现将试样固定在所述凹槽底部;本实用新型将试样放置于凹槽底部,并通过凸起固定试样,能够有效防止试样在手动磨抛光过程中由于外力受力不均匀,造成试样被磨抛表面平整度不够。同时可防止磨抛机磨抛过程中由于抛磨机的外力作用导致试样发生转动或者移动,能够确保试样抛磨面的平整。
搜索关键词: 一种 用于 制备 金相 试样 夹具
【主权项】:
1.一种用于制备金相试样的夹具,包括上夹块(1)、下夹块(2)以及穿设所述上夹块(1)和下夹块(2)之间的螺栓(3),所述螺栓(3)分布于所述上夹块(1)和下夹块(2)左右两端,其特征在于:所述上夹块(1)的底面上设置有一凸起(4),所述下夹块(2)的顶面上设置有一凹槽(5),所述凸起(4)伸入所述凹槽(5)内,以实现将试样固定在所述凹槽(5)底部。
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